介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀采用變頻抗干擾和傅立葉變換數(shù)字濾波技術(shù)，全自動(dòng)智能化測(cè)量，強(qiáng)干擾下測(cè)量數(shù)據(jù)非常穩(wěn)定。但是在使用中也難免會(huì)出現(xiàn)測(cè)試數(shù)據(jù)明顯不合理的情況，一旦出現(xiàn)這正方面的問(wèn)題，可以從以下方面查找原因。

　　一、工作模式選擇

　　接好線(xiàn)后請(qǐng)選擇正確的測(cè)量工作模式（正、反和CVT），不可選錯(cuò)。特別是干擾環(huán)境下應(yīng)選用變頻抗干擾模式。

　　二、直接測(cè)量CVT或末端屏蔽法測(cè)量電磁式PT

　　直接測(cè)量CVT的下節(jié)耦合電容會(huì)出現(xiàn)負(fù)介損，應(yīng)改用自激法。用末端屏蔽法測(cè)量電磁式PT時(shí)，由于受潮引起“T形網(wǎng)絡(luò)干擾”出現(xiàn)負(fù)介損，吹干下面三裙瓷套和接線(xiàn)端子盤(pán)即可。也可改用常規(guī)法或末端加壓法測(cè)量。

　　三、空氣濕度過(guò)大

　　部分地區(qū)由于空氣濕度過(guò)大，會(huì)導(dǎo)致介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀測(cè)量值異常增大（或減小甚至為負(fù)）且不穩(wěn)定，必要時(shí)可加屏蔽環(huán)。因人為加屏蔽環(huán)改變了試品電場(chǎng)分布，此法有爭(zhēng)議，可參照有關(guān)規(guī)程。

　　四、搭鉤接觸不良

　　在使用介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量使用搭鉤連接試品時(shí)，搭鉤務(wù)必與試品接觸良好，否則接觸點(diǎn)放電會(huì)引起數(shù)據(jù)嚴(yán)重波動(dòng)！尤其是引流線(xiàn)氧化層太厚，或風(fēng)吹線(xiàn)擺動(dòng)，易造成接觸不良。

　　五、接地接觸不良

　　接地不良會(huì)引起儀器保護(hù)或數(shù)據(jù)嚴(yán)重波動(dòng)。應(yīng)刮凈接地點(diǎn)上的油漆和銹蝕，務(wù)必保證0電阻接地！

　　六、發(fā)電機(jī)供電

　　介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀的發(fā)電機(jī)供電時(shí)輸入頻率不穩(wěn)定，可采用定頻50Hz模式工作。

　　七、測(cè)試線(xiàn)

　　介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀在使用壽命減少階段，易造成測(cè)試線(xiàn)隱性斷路，或芯線(xiàn)和屏蔽短路，或插頭接觸不良，用戶(hù)應(yīng)經(jīng)常維護(hù)測(cè)試線(xiàn)；測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)電容試品時(shí)，應(yīng)使用全屏蔽插頭連接，以消除附加雜散電容影響，否則不能反映出儀器精度；自激法測(cè)量CVT時(shí)，非的高壓線(xiàn)應(yīng)吊起懸空，否則對(duì)地附加雜散電容和介損會(huì)引起測(cè)量誤差。

　　八、試驗(yàn)方法影響

　　由于介損測(cè)量受試驗(yàn)方法影響較大，應(yīng)區(qū)分是試驗(yàn)方法誤差還是介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀導(dǎo)致的誤差。出現(xiàn)問(wèn)題時(shí)可首先檢查接線(xiàn)，然后檢查是否為介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀故障。

　　九.儀器故障

　　用萬(wàn)用表測(cè)量一下測(cè)試線(xiàn)是否斷路，或芯線(xiàn)和屏蔽是否短路；輸入電源220V過(guò)高或過(guò)低；接地是否良好。用正、反接線(xiàn)測(cè)一下標(biāo)準(zhǔn)電容器或已知容量和介損的電容試品，如果結(jié)果正確，即可判斷介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀是否出現(xiàn)故障。